可程式溫度循環(huán)試驗(yàn)箱是一種用于模擬產(chǎn)品在高低溫交替、濕度變化等復(fù)雜環(huán)境下的耐久性能和可靠性測(cè)試的設(shè)備。其主要特點(diǎn)是可以對(duì)測(cè)試參數(shù)進(jìn)行編程、可重復(fù)性高、測(cè)試精度較高等。常見的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)有以下幾種：

1、GB/T2423.1-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫》；

2、GB/T2423.2-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫》；

3、GB/T2423.3-2006《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)》；

4、GB/T2423.4-2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db:交變濕熱(12h+12h循環(huán))》；

5、GB/T2423.34-2005《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)》；

6、GB/T 2423.22-2012《環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化》。

以上標(biāo)準(zhǔn)均屬于行業(yè)內(nèi)比較常見的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。不同的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)對(duì)于產(chǎn)品的加熱、冷卻、恒溫、濕度等參數(shù)要求也有所不同，具體需要根據(jù)產(chǎn)品類型和要求進(jìn)行選擇。

可程式溫度循環(huán)試驗(yàn)箱的主要特點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便、易于編程、反應(yīng)快速、控制**，能夠模擬各種復(fù)雜環(huán)境下的條件，滿足不同產(chǎn)品耐久性能和可靠性測(cè)試的要求。同時(shí)，其還具有操作界面友好、測(cè)試結(jié)果精準(zhǔn)、數(shù)據(jù)采集方便等特點(diǎn)。